Un nuevo microscopio puede examinar los genes

Cient¨ªficos de IBM informan que, han salvado un obst¨¢culo fundamental para la mejora de los microscopios que utilizan rayos de luz y que ahora pueden examinar y analizar directamente fragmentos de materia tan peque?os como genes. El aparato tambi¨¦n puede rastrear a gran velocidad dispositivos de almacenaje de datos ¨®pticos, lo que abre una v¨ªa para hacer y usar disquetes de memoria del tama?o de monedas, con una capacidad de almacenaje cada uno equivalente a 30 largometrajes.Se dice que el nuevo microscopio es tan preciso que puede en potencia determinar los espectros de ¨¢tomos sueltos. El usuario de un microscopio tradicional ¨®ptico puede percibir objetos peque?os siempre que ¨¦stos sean mayores que las longitudes de onda de la luz utilizada para verlos. Sin embargo, las longitudes de onda de part¨ªculas at¨®micas como electrones son mucho m¨¢s cortas que las longitudes de onda de la luz y, en 1931, este hecho fue explotado en el microscopio electr¨®nico, que utiliza un haz de electrones para lograr im¨¢genes de objetos ultrapeque?os.

Desde entonces, el microscopio electr¨®nico, el at¨®mico y otros han permitido el examen de objetos incluso menores, incluidos ¨¢tomos vistos como protuberancias sobre superficies muy pulidas. Pero estos tipos de microscopio no producen espectros de ¨¢tomos y mol¨¦culas.

El nuevo microscopio emplea lentes normales para dirigir la luz l¨¢ser al punto m¨¢s peque?o posible de una parte muy delgada de la muestra. Una sonda de silicio se coloca bajo la muestra. La punta de la sonda est¨¢ afilada mediante grabado hasta un grosor de un nanometro (una milmillon¨¦sima de metro), unas cinco veces la anchura de un ¨¢tomo. La sonda de silicio, que pr¨¢cticamente toca la muestra, est¨¢ montada sobre un mecanismo rastreador que hace vibrar la sonda acerc¨¢ndola y alej¨¢ndola de la muestra 200.000 veces por segundo. Al vibrar, la punta dispersa parte de la luz que le llega despu¨¦s de pasar a trav¨¦s de la muestra y otro dispositivo combina la luz dispersa con luz sin dispersar para producir un patr¨®n de interferencia y revelar la composici¨®n qu¨ªmica del objeto. Tras muchos rastreos sucesivos, se forma una imagen del objeto.